high temperature materials research

CRMHT – CNRS Centre de Recherche sur les Matériaux à Haute Température, Orléans, France Mesure indirecte de l’émittance (Includes sample data for Silicon Dioxide) Mesure de la réflectivité et de la transmissivité normales spectrales (10 à 40 000 cm-1 soit 1 000 à 0,25 µm). L’émissivité normale spectrale se déduit indirectement par calcul de ces [...]